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VASE高精度薄膜厚度量測儀 詳細摘要： J.A.WoollamVASE是一款高精度多角度橢圓偏光儀，V-VASE系統非接觸式膜厚量測，垂直擺放樣品，移動精度高，量測角度從15-90度，可進一步量測樣品...
產品型號： 所在地： 更新時間：2022-06-08 參考價： 面議 在線留言 -
VUV-VASE Ellipsometer薄膜厚度量測儀 詳細摘要： VUV-VASEEllipsometer薄膜厚度量測儀以M-2000為主體
產品型號： 所在地： 更新時間：2022-06-08 參考價： 面議 在線留言 -
MProbeHC光反射式膜厚儀 詳細摘要： MProbeHC是一個完整量測薄膜上硬鍍層的平面或曲面系統
產品型號： 所在地： 更新時間：2022-06-08 參考價： 面議 在線留言 -
MProbe 20系列非破壞性反射式膜厚儀 詳細摘要： MProbe 20系列非破壞性反射式膜厚儀
產品型號： 所在地： 更新時間：2022-06-08 參考價： 面議 在線留言 -
MProbe 40光反射式膜厚儀 詳細摘要： 利用反射原理推算膜厚，完整的軟體資料，內建500種以上材料數據供比對
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橢圓偏光儀Alpha-SE非破壞性薄膜/光阻厚度量測 詳細摘要： 橢偏儀光譜橢偏儀Alpha-SE非破壞性薄膜厚度量測儀是J.A.Woollam橢偏儀產品中
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多點量測橢偏儀Theta-SE(橢圓儀) 詳細摘要： 橢偏儀theta-SE多點量測橢偏儀是一種用於表徵薄膜均勻性的光譜式橢偏儀
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多角度寬光譜橢偏儀M-2000 詳細摘要： M-2000系列光譜橢偏儀旨在滿足薄膜量測的各種需求
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